Live-Webinar am 23. September

Das SPECTRO ARCOS ICP-OES (Optisches Emissions-Spektrometer mit induktiv gekoppeltem Plasma) bietet Elementanalytik auf einem neuen Niveau

Das neue Dual Side-On Interface (DSOI) erhöht die Nachweisempfindlichkeit und beseitigt Probleme mit Verunreinigungen und Matrixkompatibilität
Ein Spektrometer anstatt zwei: Das einzige Gerät mit MultiView-Plasmabetrachtung –axiale UND radiale Plasmabetrachtung (einfach oder dual) in einem Gerät
ORCA-Optik: Simultane Erfassung des Spektrums in einem Wellenlängenbereich von 130 bis 770 nm mit bis zu 5x höherer Messempfindlichkeit als Echelle-Optiken – das Ergebnis: Klassenbeste Leistung im UV/VUV-Bereich

Das SPECTROGREEN mit neuer, revolutionärer „Dual Side On Interface (DSOI)“ Technologie

Dank DSOI doppelt so hohe Nachweisempfindlichkeit wie herkömmliche Geräte mit radialer Plasmabetrachtung
Das TI bietet die höchste Nachweisempfindlichkeit für Spurenelementkonzentrationen, Freiheit von Matrixinterferenzen sowie eine gute Richtigkeit für herausfordernde Matrices in der Umweltanalytik
Neues GigE Auslesesystem beschleunigt die Verarbeitung der Spektrendaten und die Datenübermittlung
Extrem agiler LDMOS-Generator kommt ohne externe Kühlung aus

Die leistungsstarke und hochwertige Lösung für die Routine-Elementanalytik

Dual Side-On Interface mit bis zu Faktor 2 verbesserter Empfindlichkeit: keine zweite Messung, reduzierte Matrixeffekte, verbesserte Richtigkeit, hohe Matrixtoleranz
Hohe Messgeschwindigkeit: Schnelle, simultane Spektrenerfassung, ermöglicht kurze Probe-zu-Probe-Zeiten und die Analyse von bis zu 700 Proben pro Tag
Niedrige Betriebskosten: minimale 0,5 l/min Optikspülung, keine Wasserkühlung erforderlich

Leistungsstarkes RFA-Spektrometer für die Multi-Element-Analyse

Außergewöhnlich niedrige Nachweisgrenzen für eine Vielzahl von Elementen und noch kürzere Messzeiten
Verbesserte Genauigkeit durch optimierte Spektrenentfaltung
Das Anwendungsgebiet umfasst auch Multischichtanalysen, bis hin zu 8 Schichten und 55 Elementen

SPECTROCUBE ED-RFA Spektrometer

Schnellstes Spektrometer seiner Klasse: Doppelt so schnell wie vergleichbare Geräte, hochpräzise Analysen
Herausragend in puncto Leistungsumfang und Genauigkeit: Optimierte Anwendungspakete
Unvergleichlicher Bedienkomfort: Mit drei einfachen Schritten zu genauen Analysen

Das Mikro-ED-RFA-Spektrometer für optimierte Edelmetallanalysen und Compliance Screening

Der anerkannte Maßstab für Edelmetallanalysen
Der breite Elementbereich und die umfangreiche Kalibrationsdatenbank sorgen für höchste Genauigkeit bei Spurenelementen und höheren Gehalten
Schnellste Messzeiten: Wählen Sie zwischen außergewöhnlich guten Ergebnissen bei durchschnittlicher Messzeit und Standard-Ergebnissen bei außergewöhnlich kurzen Messzeiten

Schnelle, zuverlässige und genaue Elementanalysen in Fertigung, Labor und vor Ort

Analytik in einem weiten Konzentrationsbereich, von Hauptkomponenten bis hin zu Spurenelementen
Portables Leichtgewicht im robusten, platzsparenden Design
Erhältlich mit kundenspezifischen Kalibrationen und vordefinierten Applikationspaketen
Einzigartige iCAL-Standardisierung mit einer integrierten Probe in weniger als 5 Minuten

Zuverlässige Analyse von Metallen und Legierungen vor Ort

Ultimative Fähigkeit zur Metallprüfung vor Ort mit 46 Elementen in 16 Metallmatrices innerhalb von 2 Sekunden für die meisten Elemente, 7 Sekunden für leichte Elemente (z. B. Al, Si, Mg); Vor-Ort-Kalibrierung für Elemente und Anwendungen, die von den Werksmethoden nicht abgedeckt werden
Entwickelt für den ganztägigen Gebrauch mit einer Hand: Ausgewogenes, größenoptimiertes, komfortables, gut ablesbares Display; Quick-Action-Software powered by Android, konzipiert für Touch-Bedienung, schneller Zugriff auf alle Funktionen
Daten & Dokumentation überall: GPS für das "Wo", Kameras für das "Was", WiFi, Bluetooth, USB und microSD für die Dokumentation und Übertragung der Ergebnisse. Lab-on-the-go: vom Handheld zum Mini-Laborsystem, sobald es an die Dockingstation mit Probenkammer angeschlossen wird

Compliance-Untersuchungen, Umweltscreening und Elementanalysen in Sekundenschnelle vor Ort

Compliance-Untersuchungen und schnelles Screening von nichtmetallischen Proben; Videokamera zur präzisen Probenpositionierung und Dokumentation des Messpunktes
Bietet gleichzeitige Messergebnisspeicherung in verschiedenen Formaten an unterschiedlichen Zielorten (USB-Laufwerk, Netzwerk oder Drucker)
Combi: Identifizierung und Analyse von Metallen (einschließlich leichter Elemente); Analyse der meisten Legierungen in 2 Sekunden und Identifizierung von Legierungen mit leichten Elementen in 7 Sekunden

Marktführender mobiler Metallanalysator

Kurze Analysezeiten: 2 s im Sortiermodus und ab 5 s im Analysenmodus
Kohlenstoffbestimmung mit Bogen- und Funkenanregung
Analyse von C, P, S, N, B und weiteren Elementen mit UV-Prüfsonde
Alle Prüfsonden unterstützen Bogen- und Funkenanregung
Einzigartiges iCAL 2.0: Ein-Proben-Standardisierung des gesamten Systems

Die einfache Wahl, wenn bei der Metallanalyse Fehler keine Option sind

Ermüdungsarmer Betrieb
Bahnbrechende, neue selbstregulierende Optik
Einzigartige iCAL 2.0 Ein-Proben-Standardisierung des gesamten Systems
Vereinfachte Software, die durch Plug-ins erweiterbar ist

Die Spitze der Revolution in der High-End-Metallanalyse

Hochpräzise Messergebnisse in weniger als 20 Sekunden (Beispiel: niedriglegierter Stahl) und Messung der wichtigsten Legierungselemente in 12 Sekunden (zum Beispiel Eisen, Aluminium und Kupfer)
iCAL 2.0 Ein-Proben-Standardisierung des gesamten Systems, unabhängig von den meisten Temperaturschwankungen und spart durchschnittlich 30 Minuten pro Tag
Bis zu 50 % weniger Argonverbrauch im Vergleich zu früheren Modellen im Standby-Betrieb und 13 % weniger im Normalbetrieb
30 % verbesserte Nachweisgrenzen für die Analyse von hochreinem Kupfer im Vergleich zum Vorgängermodell

Metallanalyse ohne Kompromisse!

Die einzigartige iCAL 2.0 Ein-Proben-Standardisierung sorgt für eine gleichbleibende Standardisierung ‒ auch bei den meisten Temperaturschwankungen ‒ und spart im Durchschnitt 30 Minuten täglich
Um 30% bis 40% verbesserte Nachweisgrenzen im Vergleich zum Vorgängermodell (Beispiel: Eisen-, Aluminium- und Kupferbasis)
Verglichen zu Vorgängermodellen bis zu 64 % geringerer Argonverbrauch im Standby
Ideal für Routineanalysen sowie für Präzisionsanalysen bei Warenein- und -ausgangskontrollen sowie im Rahmen der Prozessüberwachung (einschließlich Stickstoff) in Gießereien – inkl. 10 Matrices, 65 Methoden und 59 Elemente

Die preiswerte Lösung für leistungsfähige Metallanalysen

Schnelle Einzelproben-Standardisierung – basierend auf der Intelligenten Kalibrierlogik (iCAL) von SPECTRO – spart im Durchschnitt 30 Minuten pro Tag
Fortschrittliche Optiktechnologie für hohe Leistung und Erschwinglichkeit
70% weniger Argonverbrauch im Standby-Modus im Vergleich zum vorherigen Modell
Platzersparnis: 35% kleinerer Platzbedarf als das vorherige Modell

17. September 2021

Wir möchten Sie gerne zu unserem Live-Webinar "Using X-ray Fluorescence Spectrometry for Compliance Screening & Quality Control of Multilayer Structures in the Electronics Industry" einladen, das am 23. September 2021 um 10:30 Uhr stattfindet.

Das Webinar wird skizzieren, wie die energiedispersive Röntgenfluoreszenzspektrometrie (ED-RFA) dabei hilft, die analytischen Herausforderungen in der Elektronikindustrie zu lösen. Als Beispiele werden die Analyse von Elementkonzentrationen und Multilayer-Strukturen während der Qualitätsüberwachung und bei der Durchführung von Compliance-Screening-Tests vorgestellt. In diesem Webinar werden auch einige Hintergrundinformationen hinsichtlich aktueller Vorschriften und verfügbarer Testmethoden vermittelt.

Das Webinar wird ca. 30 Minuten dauern, gefolgt von einer Fragerunde.

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Presse

Live Webinar "Using X-ray Fluorescence Spectrometry for Compliance Screening & Quality Control of Multilayer Structures in the Electronics Industry"

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