Webinar

Innovative DSOI-Plasmabetrachtung zur Analyse von Spurenelementen in Edelmetalllegierungen

Beschreibung

Für die Analyse von Spurenelementen in Edelmetallen zur Bestimmung ihrer Reinheit ist die ICP-OES seit Jahren die Technik der Wahl. Aufgrund der Anforderungen an die Nachweisempfindlichkeit kommen hierfür meist Geräte mit axialer Plasmabetrachtung zum Einsatz. Die Anwendung ist jedoch aufgrund des hohen Matrixanteils der Proben nicht einfach, erfordert Erfahrung und ist mit einem höheren Wartungsaufwand verbunden. Die vor einigen Jahren entwickelten Systeme mit axialer Plasmabetrachtung und vertikaler Fackelausrichtung beseitigen diese Nachteile nur teilweise.

Als Lösung ohne die genannten Nachteile erweist sich die innovative doppelte radiale Plasmabetrachtung (DSOI). Das Webinar beschreibt diese neuartige Technologie und zeigt ihre Leistungsfähigkeit bei der Bestimmung von Spurenelementgehalten in verschiedenen Edelmetallen.

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