Webinar

Gibt es eine Alternative zur klassischen Dual-View-Technik?

Beschreibung

In diesem ICP-OES Webinar spricht Olaf Schulz, ICP-OES-Produktmanager, über die Dual Side-on Interface (DSOI)-Plasmabeobachtung, die wahrscheinlich das Potenzial hat, die klassische Dual-View-Technik zu ersetzen, da sie die gleiche Leistung bietet und die Nachteile beseitigt.

Die DSOI-Technologie betrachtet das im Plasma emittierte Licht buchstäblich völlig neu. Geräte, die mit dieser Technik ausgestattet sind, zeichnen sich durch höhere Nachweisempfindlichkeit, geringe Störanfälligkeit und außergewöhnliche Matrixkompatibilität aus und leiden eben nicht unter den Schwächen bisheriger Konzepte. Die DSOI-Technologie ist damit durchaus eine revolutionäre Verbesserung, bedeutet sie doch für Analysegeräte mit radialer Plasmabetrachtung ein bislang unerreichtes Maß an Leistung und Benutzerfreundlichkeit in vielfältigen Anwendungsbereichen.

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