Beschreibung
In diesem Webinar stellt Olaf Schulz, Produktmanager ICP-OES, einen aktuellen technologischen Durchbruch vor, der als einer der wichtigsten in der Geschichte der ICP-OES gilt.
- Erfahren Sie, warum die Dual Side On Interface (DSOI) Plasmabetrachtungstechnologie eine der bedeutendsten ICP-OES-Entwicklungen seit der kommerziellen Einführung der axialen Plasmabetrachtung vor über 20 Jahren darstellt
- Erfahren Sie, wie DSOI die ICP-OES-Analyse zu neuen analytischen Höhen führt, ohne die Probleme, Einschränkungen und Aufwände konventioneller "Dual-View"-Systeme.
- Informieren Sie sich über die Vorteile für reale Anwendungen
Wenn Sie hinsichtlich ICP-OES noch nicht so vertraut sind, ist dieses Webinar für Sie geeignet. Und wenn Sie dachten, Sie wüssten bereits alles über ICP-OES – nun, dann haben wir Neuigkeiten für Sie.
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